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納米粒子粒度分布如何檢測-日本meiwafosis納米粒子成像分析儀

發(fā)布時(shí)間:2020-09-10 點(diǎn)擊量:1640

日本meiwafosis納米粒子成像分析儀VIDEO DROP 

 

期待已久的“xin納米粒子測量儀”演示和發(fā)布!
無需標(biāo)記
,只需一滴即可實(shí)時(shí)測量10 nm至10μm的顆粒

  • 操作是施加樣品,然后[只需單擊一下!]
    輕松快速地測量納米粒度分布和濃度

  • 從樣品中獲取[僅需40秒即可獲得結(jié)果]!
    通過跟蹤算法分析觀察到的納米粒子的棕色運(yùn)動,并在至少40秒內(nèi)測量納米粒子的尺寸分布和濃度。

  • [小樣品量為5µL]不會浪費(fèi)珍貴樣品!
    通過用LED光照射微孔中含有5-10 µL納米顆粒的溶液,可以檢測由納米顆粒散射的光和入射光之間的干涉。

使用干涉方法和高速攝像頭觀察納米粒子軌道

軟件中安裝的跟蹤算法可以立即計(jì)算出軌道速度和距離,
并實(shí)時(shí)顯示觀察到的納米粒子的大小和數(shù)量。

 

VIDEO DROP納米顆粒成像分析儀規(guī)格

所需樣品量5-10微升
測量時(shí)間少40秒
測量范圍:金屬顆粒10納米至10微米
測量范圍:生物顆粒40nm-700nm